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背板pct老化试验箱-半导体测试 背板pct老化试验箱对半导体的PCT测试: PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好, 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属……
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广东pct加速老化试验箱-半导体测试 广东pct加速老化试验箱对半导体的PCT测试: PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好, 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应……