小型冷热冲击测试箱-特点: 1、上下两箱式结构转换速度快,恢复时间短; 2、操作简便,合理的风道循环系统,温度分布均匀; 3、中文界面液晶显示程序控制器; 4、强力入制冷进口压缩机,降温速度快; 4、完备可靠的安全装置; 5、高可靠性设计,适合于24小时连续试验 小型冷热冲击测……
三箱冷热冲击测试箱-特点: 1、上下两箱式结构转换速度快,恢复时间短; 2、操作简便,合理的风道循环系统,温度分布均匀; 3、中文界面液晶显示程序控制器; 4、强力入制冷进口压缩机,降温速度快; 4、完备可靠的安全装置; 5、高可靠性设计,适合于24小时连续试验 三箱冷热冲击测……
节能型冷热冲击测试箱公司-特点: 1、上下两箱式结构转换速度快,恢复时间短; 2、操作简便,合理的风道循环系统,温度分布均匀; 3、中文界面液晶显示程序控制器; 4、强力入制冷进口压缩机,降温速度快; 4、完备可靠的安全装置; 5、高可靠性设计,适合于24小时连续试验 节能型冷……
led测试冷热冲击试验箱-特点: 1、上下两箱式结构转换速度快,恢复时间短; 2、操作简便,合理的风道循环系统,温度分布均匀; 3、中文界面液晶显示程序控制器; 4、强力入制冷进口压缩机,降温速度快; 4、完备可靠的安全装置; 5、高可靠性设计,适合于24小时连续试验 led测试冷……
微电子冷热冲击试验箱节能技术: 微电子冷热冲击试验箱制冷压缩机启停控制温度(温度波动大、严重影响压缩机寿命,已淘汰的技术)制冷 压缩机恒定运行+加热PID控制(导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡,浪费了大量的电能)新型PWM 冷控制技术实现低温节能运行:低温工作状……
半导体冷热冲击试验箱-特点: 1、上下两箱式结构转换速度快,恢复时间短; 2、操作简便,合理的风道循环系统,温度分布均匀; 3、中文界面液晶显示程序控制器; 4、强力入制冷进口压缩机,降温速度快; 4、完备可靠的安全装置; 5、高可靠性设计,适合于24小时连续试验 半导体冷热冲……
led冷热冲击试验箱制冷工作原理: led冷热冲击试验箱制冷循环均采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷 剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换 ,将热量传给四周介质。后制……
冷热冲击试验箱节能技术: 冷热冲击试验箱制冷压缩机启停控制温度(温度波动大、严重影响压缩机寿命,已淘汰的技术)制冷 压缩机恒定运行+加热PID控制(导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡,浪费了大量的电能)新 型PWM冷控制技术实现低温节能运行:低温工作状态,加热器不……
pct高压速老化试验箱-半导体测试 pct高压速老化试验箱对半导体的PCT测试: PCT最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好, 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金……
非饱和老化试验箱结构特点: 1.非饱和老化试验箱圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象; 2.圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击; 3.水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量; 4.专用型packing,……
hast高压加速老化寿命试验机产品应用: hast高压加速老化寿命试验机随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效, 因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了*新的压力蒸煮锅试验方法。 hast高压加速老……
hast高压加速老化试验机价格产品应用: hast高压加速老化试验机价格随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确 定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了*新的压力蒸煮锅试验方法。 hast高压加速老……
hast高度加速寿命试验箱 加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及……
元器件hast试验箱 加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失……
hast高加速试验箱 加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。 用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失……