pct蒸汽老化试验箱

pct蒸汽老化试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造 成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 pct蒸汽……

pct高温蒸煮试验箱

pct高温蒸煮试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路， 或封装体引脚间因污染造成短路等。 pct高温……

pct高温加速老化试验箱

pct高温加速老化试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造 成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 pct……

pct饱和加速试验箱

pct饱和加速试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之 断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 pct饱和……

pct高压蒸煮试验箱

pct高压蒸煮试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成 之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 pct高压……

PCT饱和加速寿命老化试验箱

PCT饱和加速寿命老化试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路， 或封装体引脚间因污染造成短路等。 ……

PCT高压加速寿命试验箱

PCT高压加速寿命试验箱（又名PCT高压加速老化试验机） 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试， 湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成 之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCT……

中国航天科工采购艾思荔三综合试验箱

三星采购艾思荔环境老化试验箱

赛宝实验室采购艾思荔可程式恒温恒湿试验箱

华为采购艾思荔卧式交变恒温恒湿试验箱

昌河飞机采购艾思荔高频振动试验台

中国航天采购艾思荔温度湿度振动三综合试验箱

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